產(chǎn)品介紹：

步入式試驗(yàn)室適用于工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行濕熱試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)以及高低溫漸變?cè)囼?yàn)，具有極限溫（濕）度范圍廣、實(shí)際溫（濕）度精度高的特點(diǎn)，步入式試驗(yàn)室，工作室大，可供多種元器件、整機(jī)做溫度濕度試驗(yàn)，也可以走進(jìn)試驗(yàn)室作為生產(chǎn)設(shè)備，工作室尺寸可由客戶自定義，符合“環(huán)境試驗(yàn)十倍條件"系列標(biāo)準(zhǔn)條件。

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：

GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007);

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007);

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001);

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)

(IEC60068-2-30:2005);

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56);

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14);

GJB150.3A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn);

GJB150.4A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn);

技術(shù)參數(shù)